1. 首要就是驅(qū)動(dòng)傳感器運(yùn)動(dòng)的部件滾珠絲桿，由于絲桿若是有空隙的話將來做出的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，將直接影響實(shí)驗(yàn)的最大變形和斷后伸長(zhǎng)率。當(dāng)前市場(chǎng)上的電子萬能試驗(yàn)機(jī)有的絲桿是用T形通常絲桿，這樣的話一是空隙比擬大，二是磨擦力比擬大運(yùn)用壽命短銳瑪機(jī)械試驗(yàn)機(jī)廠所用絲桿為德國(guó)優(yōu)勵(lì)聶夫高精度無空隙滾珠絲桿，表面淬火硬度為HRC58-62，運(yùn)用壽命可達(dá)幾十年。而且確保精度不變。
　　2. 其次就是電子萬能試驗(yàn)機(jī)的傳動(dòng)體系，當(dāng)前市場(chǎng)上的實(shí)驗(yàn)機(jī)傳動(dòng)體系有的選用減速機(jī)，有的選用通常皮帶，這兩種傳動(dòng)方法的首要壞處：前種需求定時(shí)加潤(rùn)滑油，后種則確保不了傳動(dòng)的同步性影響實(shí)驗(yàn)成果。開源儀器的實(shí)驗(yàn)機(jī)傳動(dòng)體系選用全圓弧同步帶減速，確保了傳動(dòng)的同步精度，傳動(dòng)精度高，效率高，傳動(dòng)平穩(wěn)，燥聲低，不必保護(hù)運(yùn)用壽命長(zhǎng)
　　3. 接著就是試驗(yàn)機(jī)的力值傳感器，由于傳感器的好壞決議了實(shí)驗(yàn)機(jī)的精度和測(cè)力安穩(wěn)性，當(dāng)前市場(chǎng)上的拉力機(jī)用傳感器小力值通常用S型傳感器，大力值通常用輪輻式傳感器，傳感器內(nèi)部通常為電阻應(yīng)變片式，若是應(yīng)變片精度不高或固定應(yīng)變片用的膠抗老化才能欠好在或許傳感器的資料欠好都將影響傳感器的精度和運(yùn)用壽命。開源儀器所選用的進(jìn)口傳感器為國(guó)際箸名傳感器制造商美國(guó)銓力傳感器，該傳感器精度高，線性好，功能十分安穩(wěn)，幾十年都不會(huì)改變。
　　4. 再次就是試驗(yàn)機(jī)的動(dòng)力源(電機(jī))也叫馬達(dá)，當(dāng)前市場(chǎng)上有的實(shí)驗(yàn)機(jī)選用通常三相電機(jī)或變頻電機(jī)，這種電機(jī)選用模擬信號(hào)操控，操控反響慢，定位不精確，通常調(diào)速規(guī)模窄。有高速就沒了低速或有低速就沒了高速，而且速度操控不精確，開源儀器所用的電機(jī)為日本松下全數(shù)字溝通伺服電機(jī)，操控方法選用全數(shù)字脈沖操控，調(diào)速規(guī)模廣，可達(dá)0.001-1000MM/MIN，操控定位精確，反響快，0.01秒可加到滿速度，該電機(jī)能確保滿量程速度操控精確，且運(yùn)用壽命長(zhǎng)，可達(dá)幾十年，且不必保護(hù)。
　　5. 最終就是試驗(yàn)機(jī)的測(cè)控體系(也就是軟件和硬件)，當(dāng)前市場(chǎng)上大多數(shù)拉力機(jī)的測(cè)控體系選用的是8位的單片機(jī)操控，采樣速率低，且抗干擾才能差，別的就是AD 轉(zhuǎn)換器，若是AD轉(zhuǎn)換器的位數(shù)也就是分辨率低的話。那么丈量也不會(huì)準(zhǔn)。開源儀器的測(cè)控體系選用國(guó)際最領(lǐng)先的32位ARM技能研發(fā)的操控器 HytestV6.0.此操控器是根據(jù)32位ARM渠道，并運(yùn)轉(zhuǎn)本公司研發(fā)的不時(shí)多任務(wù)操作體系，是程序運(yùn)轉(zhuǎn)愈加平穩(wěn)，體系愈加安穩(wěn)。采樣速率可達(dá)每秒 200次，在加上24位的高精度低燥聲高速AD轉(zhuǎn)換器，使整個(gè)測(cè)控體系愈加高精度，高安穩(wěn)性的操控整個(gè)實(shí)驗(yàn)進(jìn)程，上位機(jī)的軟件為開源儀器歷時(shí)2年研發(fā)的全數(shù)字三畢環(huán)操控軟件，有兩種操控方法a. PID操控調(diào)理方法 b.模湖操控調(diào)理方法(業(yè)界首家)。使整個(gè)實(shí)驗(yàn)進(jìn)程可到達(dá)恒力值控操控，恒位移操控，恒變形操控，低頻疲憊操控，和程序恣意操控。
　　“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”，該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗(yàn)，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問題就立即改進(jìn)，然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(zhǎng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過系統(tǒng)試驗(yàn)，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(zhǎng)，這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問題的情況，針對(duì)性較強(qiáng)。

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